المؤلفون: K. U. Pantsialeyeu, A. I. Svistun, A. K. Tyavlovsky, A. L. Zharin, К. В. Пантелеев, А. И. Свистун, А. К. Тявловский, А. Л. Жарин

المصدر: Devices and Methods of Measurements; Том 7, № 2 (2016); 136-144 ; Приборы и методы измерений; Том 7, № 2 (2016); 136-144 ; 2414-0473 ; 2220-9506 ; 10.21122/2220-9506-2016-7-2

مصطلحات موضوعية: электростатический потенциал, contact potential difference, digital CPD probe, electron work function, electrostatic potential, контактная разность потенциалов, цифровой измеритель КРП, работа выхода электрона

وصف الملف: application/pdf

Relation: https://pimi.bntu.by/jour/article/view/250/251; Пантелеев, К.В. Построение измерителей контактной разности потенциалов / К.В. Пантелеев, В.А. Микитевич, А.Л. Жарин // Приборы и методы измерений. – 2016. – Т. 7, № 1. – С. 7–15; doi:10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15.; Hadjadjy, A., Contact potential measurements with a local Kelvin probe. / A. Hadjadjy [et al.] // Philosophical magazine B. – 2001. – Vol. 11, no. 11. – Р. 1257– 1266; doi:10.1080/13642810208223162.; Luo, G.-N. Influence of space charge on the performance of the Kelvin probe / G.-N. Luo [et al.] // Review of scientific instruments. – 2001. – Vol. 72, no. 5. – Р. 2350– 2357; doi:10.1063/1.1367363.; Subrahmanyam, A. The Kelvin Probe for Surface Engineering: Fundamentals and Design / A. Subrahmanyam, S. Kumar. – USA : CRC Press, 2010. – 200 p.; Zharin, A.L. Contact Potential Difference Techniques As Probing Tools in Tribology and Surface Mapping / A.L. Zharin // Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology. – Heidelberg : SpringerVerlag, 2010. – P. 687–720.; Makino, T. Contact Potential Difference Measurement of Adhesion Process during Micro / Meso-scale Injection Upsetting / T. Makino [et al.] // Procedia Engineering. – 2014. – Vol. 81. – P. 444–449; doi:10.1016/j.proeng.2014.10.020.; Kondo, A. Kelvin probe imaging of photo-injected electrons in metal oxide nanosheets from metal sulfide quantum dots under remote photochromic coloration / A. Kondo [et al.] // Nanoscale. – 2015. – no. 7. – Р. 12510– 12515.; Peterson, I. R. Kelvin probe liquid-surface potential sensor. / I. R. Peterson // Review of Scintific Instruments. – 1999. – Vol. 70, no. 7. – P. 3418–3424; doi:10.1063/1.1149929.; Mazhar, M.E. Kelvin probe as an effective tool to develop sensitive p-type CuO gas sensors / M.E. Mazhar [et al.] / Sensors and Actuators B: Chemical. – 2016. – Vol. 222. – P. 1257–1263; doi:10.1016/j.snb.2015.05.050. 10. Жарин, А.Л. Метод контактной разности потенциалов и его применение в трибологии / А.Л. Жарин. – Минск : Бестпринт, 1996. – 235 с.; Wicinski, M. Lateral resolution in scanning Kelvin probe microscopy / M. Wicinski, W. Burgstaller, A.W. Hassel // Corrosion Science. – 2016. – Vol. 104. – P. 1–8; doi:10.1016/j.corsci.2015.09.008.; Rossi, F. Contact potential measurement: Spacing-dependence errors / F. Rossi // Review of Scintific Instruments. – 1992. – Vol. 63; doi :10.1063/1.1143230.; McMurray, H.N. Probe diameter and probespecimen distance dependence in the lateral resolution of a scanning Kelvin probe / H.N. McMurray, G. Williams // Journal of Applied Physics. – 2002. – Vol. 91, no. 3. – P. 1673–1679; doi:10.1063/1.1430546.; Klein, U. Contact potential differences measurement: Short history and experimental setup for classroom demonstration / U. Klein, W. Vollmann, A. Paulo // IEEE Transactions on Education. – 2003. – Vol. 3, no. 46. – P. 338–344.; Frankel, G. Potential control under thin aqueous layers using a Kelvin probe / G.S. Frankel [et al.] // Corrosion Science. – 2007. – Vol. 49. – P. 2021–2036; doi:10.1016/j.corsci.2006.10.017.; https://pimi.bntu.by/jour/article/view/250

الاتاحة: https://pimi.bntu.by/jour/article/view/250
https://doi.org/10.21122/2220-9506-2016-7-2-136-144

المؤلفون: ПАНТЕЛЕЕВ К.В., СВИСТУН А.И., ТЯВЛОВСКИЙ А.К., ЖАРИН А.Л.

مصطلحات موضوعية: ЗОНД КЕЛЬВИНА,КОНТАКТНАЯ РАЗНОСТЬ ПОТЕНЦИАЛОВ,ЦИФРОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ КРП,РАБОТА ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА,ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИЙ ПОТЕНЦИАЛ

وصف الملف: text/html

الاتاحة: http://cyberleninka.ru/article/n/tsifrovoy-izmeritel-kontaktnoy-raznosti-potentsialov
http://cyberleninka.ru/article_covers/16883624.png

مصطلحات موضوعية: Зонд Кельвина, Цифровой измеритель КРП, Электростатический потенциал, Контактная разность потенциалов, Работа выхода электрона

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2402::aed55dba0f590d5c9de82456cb87c2e9
https://rep.bntu.by/handle/data/24836

المصدر: Приборы и методы измерений.

مصطلحات موضوعية: ЗОНД КЕЛЬВИНА,КОНТАКТНАЯ РАЗНОСТЬ ПОТЕНЦИАЛОВ,ЦИФРОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ КРП,РАБОТА ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА,ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИЙ ПОТЕНЦИАЛ

وصف الملف: text/html

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2806::e5e622cea1396cdb19fb0ef5a8c0998d
http://cyberleninka.ru/article/n/tsifrovoy-izmeritel-kontaktnoy-raznosti-potentsialov

Additional Titles: Digital contact potential difference probe

المؤلفون: Пантелеев, К. В., Свистун, А. И., Тявловский, А. К., Жарин, А. Л.

مصطلحات الفهرس: Зонд Кельвина, Контактная разность потенциалов, Цифровой измеритель КРП, Работа выхода электрона, Электростатический потенциал, Статья (Article)

URL: http://hdl.handle.net/rour/60937uri
Приборы и методы измерений