-
1Academic Journal
المؤلفون: Заболотна, Н. І.
مصطلحات موضوعية: елементи матриці Мюллера, референтна матриця, система двовимірного Мюллер- матричного картографування, фазозсуваюча пластинка з лінійним двопроменезаломленням, похибки, статистичний, кореляційний, фрактальний аналіз
وصف الملف: application/pdf
Relation: Заболотна Н. І. Похибки вимірювань референтних матриць Мюллера в системі Мюллер-матричного картографування біологічних шарів [Текст] / Н. І. Заболотна // Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. - 2015. - № 1. - С. 109-117.; http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/2816; 615.47:616.073
-
2Academic Journal
المؤلفون: Заболотна, Н. І.
المصدر: Optoelectronic Information-Power Technologies; Vol. 29 No. 1 (2015); 109-117 ; Оптико-електроннi iнформацiйно-енергетичнi технологiї; Том 29 № 1 (2015); 109-117 ; 2311-2662 ; 1681-7893
مصطلحات موضوعية: Mueller matrix elements, reference matrix system is a two-dimensional matrix mapping Muller, fazozsuvayucha plate with linear birefringence, error, statistical, correlation, fractal analysis, элементы матрицы Мюллера, референтная матрица, система двумерного Мюллер матричного картографирования, фазозсуваюча пластинка с линейным двулучепреломления, погрешности, статистический, корреляционный, фрактальный анализ, елементи матриці Мюллера, референтна матриця, система двовимірного Мюллер-матричного картографування, фазозсуваюча пластинка з лінійним двопроменезаломленням, похибки, статистичний, кореляційний, фрактальний аналіз
وصف الملف: application/pdf
-
3Electronic Resource