المؤلفون: Korolevych, L. M., Borisov, A. V., Voronko, A. O.

مصطلحات موضوعية: MIS structure, cerium dioxide, capacitance-voltage characteristic (CV characteristic), flat-band voltage, charge density at the dielectric-semiconductor interface, МДН структура, дiоксид церiю, вольт-фарадна характеристика (ВФХ), напруга плоских зон, щiльнiсть заряду на межi подiлу дiелектрикнапiвпровiдник, МДП структура, диоксид церия, вольт-фарадная характеристика (ВФХ), напряжение плоских зон, плотность заряда на границе раздела диэлектрик-полупроводник, 621.382

وصف الملف: Pp. 69-74; application/pdf

Relation: Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових праць, Вип. 85; Korolevych, L. M. The Experimental Study of the Cerium Dioxide Silicon Interface of MIS Structures / Korolevych L. M., Borisov A. V., Voronko A. O. // Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових праць. – 2021. – Вип. 85. – С. 69-74. – Бібліогр.: 17 назв.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/56109; orcid:0000-0002-4006-280X; orcid:0000-0003-4553-3591; orcid:0000-0003-2899-963X

الاتاحة: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/56109

المؤلفون: Korolevych, L. M., Borisov, A. V., Voronko , A. O.

المصدر: Visnyk NTUU KPI Seriia - Radiotekhnika Radioaparatobuduvannia; No. 85 (2021); 69-74 ; Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування; № 85 (2021); 69-74 ; Вестник НТУУ "КПИ". Серия Радиотехника, Радиоаппаратостроение; № 85 (2021); 69-74 ; 2310-0389 ; 2310-0397 ; 10.20535/RADAP.2021.85

مصطلحات موضوعية: МДН структура, діоксид церію, вольт-фарадна характеристика (ВФХ), напруга плоских зон, щільність заряду на межі поділу діелектрик-напівпровідник, MIS structure, cerium dioxide, capacitance-voltage characteristic (CV characteristic), flat-band voltage, charge density at the dielectric-semiconductor interface, МДП структура, диоксид церия, вольт-фарадная характеристика (ВФХ), напряжение плоских зон, плотность заряда на границе раздела диэлектрик-полупроводник

وصف الملف: application/pdf

Relation: http://radap.kpi.ua/radiotechnique/article/view/1722/1488; http://radap.kpi.ua/radiotechnique/article/view/1722

الاتاحة: http://radap.kpi.ua/radiotechnique/article/view/1722
https://doi.org/10.20535/RADAP.2021.85.69-74

المؤلفون: Korolevych, L. M., Borisov, A. V., Voronko, A. O.

مصطلحات موضوعية: MIS structure, дiоксид церiю, flat-band voltage, capacitance-voltage characteristic (CV characteristic), напряжение плоских зон, напруга плоских зон, МДН структура, щiльнiсть заряду на межi подiлу дiелектрикнапiвпровiдник, МДП структура, вольт-фарадна характеристика (ВФХ), вольт-фарадная характеристика (ВФХ), cerium dioxide, charge density at the dielectric-semiconductor interface, диоксид церия, 621.382, плотность заряда на границе раздела диэлектрик-полупроводник

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2635::02367cc7839d602d766a83d295b945d3
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/56109

Additional Titles: Экспериментальное исследование границы раздела диоксид церия — кремний МДП структур
Експериментальне дослідження межі розділу діоксид церію — кремній МДН структур

المؤلفون: Borisov, A. V., Korolevych, L. M.

المصدر: Visnyk NTUU KPI Seriia - Radiotekhnika Radioaparatobuduvannia; No. 85 (2021); 69-74; Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування; № 85 (2021); 69-74; Вестник НТУУ "КПИ". Серия Радиотехника, Радиоаппаратостроение; № 85 (2021); 69-74; 2310-0389; 2310-0397; 10.20535/RADAP.2021.85

مصطلحات الفهرس: МДН структура, діоксид церію, вольт-фарадна характеристика (ВФХ), напруга плоских зон, щільність заряду на межі поділу діелектрик-напівпровідник, MIS structure, cerium dioxide, capacitance-voltage characteristic (CV characteristic), flat-band voltage, charge density at the dielectric-semiconductor interface, МДП структура, диоксид церия, вольт-фарадная характеристика (ВФХ), напряжение плоских зон, плотность заряда на границе раздела диэлектрик-полупроводник, info:eu-repo/semantics/article, info:eu-repo/semantics/publishedVersion

URL: http://radap.kpi.ua/radiotechnique/article/view/1722
http://radap.kpi.ua/radiotechnique/article/view/1722/1488
http://radap.kpi.ua/radiotechnique/article/view/1722/1488

Additional Titles: Экспериментальное исследование границы раздела диоксид церия — кремний МДП структур
Експериментальне дослідження межі розділу діоксид церію — кремній МДН структур

المؤلفون: Korolevych, L. M., Borisov, A. V., Voronko , A. O.

المصدر: Visnyk NTUU KPI Seriia - Radiotekhnika Radioaparatobuduvannia; No. 85 (2021); 69-74; Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування; № 85 (2021); 69-74; Вестник НТУУ "КПИ". Серия Радиотехника, Радиоаппаратостроение; № 85 (2021); 69-74; 2310-0389; 2310-0397; 10.20535/RADAP.2021.85

مصطلحات الفهرس: МДН структура, діоксид церію, вольт-фарадна характеристика (ВФХ), напруга плоских зон, щільність заряду на межі поділу діелектрик-напівпровідник, MIS structure, cerium dioxide, capacitance-voltage characteristic (CV characteristic), flat-band voltage, charge density at the dielectric-semiconductor interface, МДП структура, диоксид церия, вольт-фарадная характеристика (ВФХ), напряжение плоских зон, плотность заряда на границе раздела диэлектрик-полупроводник, info:eu-repo/semantics/article, info:eu-repo/semantics/publishedVersion

URL: http://radap.kpi.ua/radiotechnique/article/view/1722
http://radap.kpi.ua/radiotechnique/article/view/1722/1488
http://radap.kpi.ua/radiotechnique/article/view/1722/1488