المساهمون: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Факультет електроніки, Кафедра електронних приладів та пристроїв

مصطلحات موضوعية: вимірювання фази, модуляційна поляриметрія, photoelastic microscope, the phase measurement, modulation polarimetry, displacement sensor, сенсор переміщення, фотопружний мікроскоп, повышение чувствительности, підвищення чутливості, модуляционная поляриметрия, сенсор перемещения, измерения фазы, the value of the birefringence, фотоупругий микроскоп, величина двопроменезаломлення, 681.723.2]:535.568](043.3) [621.382.049.774], sensitivity increase, величина двулучепреломления

وصف الملف: 22 с.; application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2635::739cdca01a814fffd1b01f3f637496e1
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685

المؤلفون: Олійник, Остап Олегович

المساهمون: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Факультет електроніки, Кафедра електронних приладів та пристроїв

مصطلحات موضوعية: підвищення чутливості, величина двопроменезаломлення, вимірювання фази, модуляційна поляриметрія, фотопружний мікроскоп, сенсор переміщення, sensitivity increase, the value of the birefringence, the phase measurement, modulation polarimetry, photoelastic microscope, displacement sensor, повышение чувствительности, величина двулучепреломления, измерения фазы, модуляционная поляриметрия, фотоупругий микроскоп, сенсор перемещения, 621.382.049.774:681.723.2]:535.568](043.3)

وصف الملف: 22 с.; application/pdf

Relation: Олійник, О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : автореф. дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Олійник Остап Олегович. – Київ, 2017. – 22 с.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685

الاتاحة: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685