المؤلفون: Галій, П.В., Мазур, П., Ціжевський, А., Ненчук, Т.М., Яровець, І.Р., Бужук, Я.М., Дверій, О.Р.

مصطلحات موضوعية: шаруваті кристали, міжшарові поверхні сколювання, топографія, скануючі тунельна та атомно силова мікроскопії та спектроскопії, поверхневі дефекти та густина поверхневих електронних станів

وصف الملف: application/pdf

Relation: Топографія та густина поверхневих електронних станів ювенільних та дефектних наноструктурованих поверхонь сколювання (100) шаруватих кристалів In4Se3 / П.В. Галій, П. Мазур, А. Ціжевський, Т.М. Ненчук, І.Р. Яровець, Я.М. Бужук, О.Р. Дверій // Журнал нано- та електронної фізики. - 2018. - Т.10, № 4. - 04002. - DOI:10.21272/jnep.10(4).04002.; http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/70759

الاتاحة: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/70759

المؤلفون: Галій, П.В., Васильців, В.І., Лучечко, А.П., Мазур, П., Ненчук, Т.М., Цвєткова, О.В., Яровець, І.Р.

مصطلحات موضوعية: високотемпературний твердофазовий синтез, х-променева фотоелектронна спектроскопія, елементно-фазовий склад, топографія, атомна силова мікроскопія поверхонь, 2β-Ga2O3-SnO2 system, x-ray photoelectron spectroscopy, elemental-phase study, topography, atomic force microscopy

وصف الملف: application/pdf

Relation: Елементно-фазові та структурні дослідження полікристалічних поверхонь сполук системи β-Ga2O3-SnO2 / П.В. Галій, В.І. Васильців, А.П. Лучечко [та ін.] // Журнал нано- та електронної фізики. - 2018. - Т.10, № 5. - 05039. - DOI:10.21272/jnep.10(5).05039.; http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/71547

الاتاحة: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/71547

المؤلفون: Галій, П.В., Мазур, П., Ціжевський, А., Яровець, І.Р., Ненчук, Т.М., Сімон, Франк, Бужук, Я.М., Фоменко, В.Л.

مصطلحات موضوعية: Шаруваті кристали, Міжшарові поверхні сколювання, Х-променева фотоелектронна спектроскопія, Елементно-фазовий склад, Топографія, Атомна структура, Скануюча тунельна мікроскопія, Скануюча тунельна спектроскопія, Дифракція повільних електронів, Слоистые кристаллы, Междуслоевые поверхности скалывания, Х-лучевая фото- электронная спектроскопия, Элементно-фазный состав, Топография, Атомная структура, Сканирующая туннельная микроскопия, Сканирующая туннельная спектроскопия, Дифракция медленных электронов, Layered crystals, Interlayer cleavage surfaces, X-ray photoelectron spectroscopy, Element-phase composition, Topography, Atomic structure, Scanning tunneling microscopy, Scanning tunneling spectroscopy, Low energy electron diffraction

وصف الملف: application/pdf

Relation: П.В. Галій, П. Мазур та ін. Ж. нано- електрон. фіз. 8 № 1, 01012 (2016); http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44812

الاتاحة: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44812

المؤلفون: Галій, П.В., Ненчук, Т.М., Ціжевський, А., Мазур, П., Бужук, Я.М., Яровець, І.Р.

مصطلحات موضوعية: Строение и свойства наноразмерных и мезоскопических материалов

Relation: Металлофизика и новейшие технологии; Наноструктурні дослідження поверхонь (100) кристалів In₄Se₃, інтеркальованих сріблом / П.В. Галій, Т.М. Ненчук, А. Ціжевський, П. Мазур, Я.М. Бужук, І.Р. Яровець // Металлофизика и новейшие технологии. — 2013. — Т. 35, № 8. — С. 1031-1043. — Бібліогр.: 15 назв. — рос.; PACS numbers:68.35.bg, 68.37.Ef,68.47.De,68.47.Fg,71.20.Tx,73.20.At, 82.80.Pv; http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/104176

الاتاحة: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/104176