يعرض 1 - 20 نتائج من 452 نتيجة بحث عن '"ЭДС"', وقت الاستعلام: 0.73s تنقيح النتائج
  1. 1
    Academic Journal
  2. 2
    Academic Journal

    المصدر: «System analysis and applied information science»; № 1 (2024); 19-25 ; «Системный анализ и прикладная информатика»; № 1 (2024); 19-25 ; 2414-0481 ; 2309-4923 ; 10.21122/2309-4923-2024-1

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: https://sapi.bntu.by/jour/article/view/656/491; Mouliswararao, R. Mathematical Modeling of Brushless DC Motor and its Speed Control using Pi Controller / R. Mouliswararao, K. Bhaskararao, Ch. Prasad. // International journal of engineering research and technology (IJERT). Vol. 08, Issue 05 (May 2019). – 2019. – P. 880-883. DOI:10.17577/IJERTV8IS05044; Schagin, A.V. Development of Speed Control System for BLDC Motor with Power Factor Correction / A.V. Schagin, D.T. Nguyen // 2020 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus), St. Petersburg and Moscow, Russia. – 2020. – P. 2411-2414. DOI:10.1109/EIConRus49466.2020.9038981; Purnalal, M. Development of mathematical model and speed control of BLDC motor / M. Purnalal, T.K. Sunil kumar // International Journal of Electrical and Electronics Engineers IJEEE, Volume 07, Issue 01, JanJune 2015. – 2015. – P. 271-280.; Obulesh, Y. Mathematical modeling of bldc motor with closed loop speed control using pid controller under various loading conditions. / Obulesh, Y., Ch, Sai Babu, A., Purna Chandra Rao // ARPN Journal of Engineering and Applied Sciences. Vol. 7 (10). October, 2012. – 2012. – P. 1321-1328.; Прошутинский Д.А. Разработка математической модели привода на основе низкооборотистого бесколлекторного электродвигателя. Политехнический молодежный журнал. – 2020. – № 05(46). DOI:10.18698/2541-8009-2020-05-60; Аль Махтури, Ф.Ш. Верификация математической модели бесконтактного двигателя постоянного тока в Simulink с использованием паспортных и экспериментальных данных. / Ф. Ш. Аль Махтури, Д. В. Самохвалов. // Международная конференция по мягким вычислениям и измерениям: СПбГЭТУ ЛЭТИ. – 2019. – Т. 1. – С. 304-306.; Гаврилов С.В. Управление электроприводом на основе бесколлекторного двигателя с постоянными магнитами / С.В. Гаврилов, Д.Т. Занг, Н.Д. Тхань // Известия СПбГЭТУ ЛЭТИ. – 2016. – № 8. – С. 53-62.; Абузяров Т.Х. [и др.] Разработка модели систем высококачественного бесколлекторного электропривода постоянного тока //Вестник Ивановского государственного энергетического университета. – 2020. – № 1. – С. 31-45.; Радимов И.Н. [и др.] Исследования вентильного двигателя с внутренними постоянными магнитами при двух способах соединения фаз обмотки статора //Электротехника и электромеханика. – 2010. – № 6. – С. 35-38.; Фираго Б.И. Реализация бесконтактного двигателя постоянного тока с ферритовыми магнитами на основе конструкции асинхронного двигателя / Б.И. Фираго, А.Г. Гульков, Л. Павлячик // Энергетика. Известия высших учебных заведений и энергетических объединений СНГ. 2001; (1). – С. 39-51. DOI:10.21122/1029-7448-2001-0-1-39-51; Фираго Б.И. К вопросу векторного управления асинхронными двигателями / Б.И. Фираго, Д.С. Васильев // Энергетика. Известия высших учебных заведений и энергетических объединений СНГ. – 2015. – № 5. – С. 5-16.; https://sapi.bntu.by/jour/article/view/656

  3. 3
  4. 4
    Academic Journal

    المساهمون: All studies were carried out in the laboratory of State Primary Standards and Scientific Research in the field of Measuring the Modes of Electrical Circuits, D. I. Mendeleev Institute for Metrology, the authors express their gratitude to the team of this laboratory for their participation in the work to improve GET 13, Все исследования проводились в лаборатории Государственных первичных эталонов и научных исследований в области измерений режимов электрических цепей ФГУП «ВНИИМ им. Д. И. Менделеева», коллективу которой авторы выражают благодарность за их участие в работе по совершенствованию ГЭТ 13

    المصدر: Measurement Standards. Reference Materials; Том 19, № 5 (2023); 45-58 ; Эталоны. Стандартные образцы; Том 19, № 5 (2023); 45-58 ; 2687-0886

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: https://www.rmjournal.ru/jour/article/view/443/315; Егоров Н. Г. О правительственной выверке электрических измерительных приборов в западноевропейских государствах // Временник. 1899. Ч. 4. С. 81–121.; Иванов М. В. Нормальные элементы Латимера-Кларка Главной Палаты Мер и Весов // Временник. 1900. Ч. 5. С. 36–59.; Егоров Н. Г. Предварительные работы по приготовлению эталонов основных электрических единиц // Временник. 1911. Ч. 1. С. 122–131.; Чураева Е. С. Состояние эталона международного вольта СССР с 1932 по 1937 г. Исследования в области электрических измерений // Труды ВНИИМ. 1939. Вып. 24(40).; Колосов А. К., Чалова Е. А. Состояние государственного эталона вольта СССР // Труды ВНИИМ. 1960. Вып. 39(99).; Рождественская Т. Б., Широков К. П. Установление нового размера единицы ЭДС – вольта // Измерительная техника. 1970. № 8.; Горюнов П. Н., Шишкин В. М. Электрические, тепловые и временные характеристики термокомпенсированных стабилитронов типа Д818. Исследования в области электрических измерений // Труды ВНИИМ. Вып. 1971. Вып. 115(175).; Галахова О. П., Рождественская Т. Б., Шишкин В. М. Обеспечение единства измерений электрических величин в странах-членах СЭВ // Измерительная техника. 1972. № 5.; Барбарович В. Ю. Автоматизированный рабочий эталон единицы ЭДС в диапазоне значений 1–10 В // Измерительная техника. 1993. № 8.; Аппаратура для контроля стабильности ЭДС нормальных элементов на основе эффекта Джозефсона / С. В. Горбацевич [и др.] // Измерительная техника. 1976. № 4. С. 59–61.; Новый государственный первичный эталон единицы электродвижущей силы – вольта / Ю. В. Тарбеев [и др.] // Измерительная техника. 1981. № 12. С. 3–5.; Александров В. С., Катков А. С., Телитченко Г. П. Новый государственный первичный эталон и государственная поверочная схема для средств измерений постоянного электрического напряжения и электродвижущей силы // Измерительная техника. 2002. № 3. С. 6–9.; Bilateral comparison of 1.018 V standards between the VNIIM and the BIPM: BIPM Rapport BIPM-99/2 / D. Avrons [et al.]. France: BIPM Publications, 1999.; Katkov A. S., Solve S., Stock M. Bilateral Comparison of 10 V Standards between the VNIIM (Russia) and the BIPM, August to October 2007 (part of the ongoing BIPM key comparison BIPM.EM-K11.b): Rapport BIPM-07/07. France: BIPM Publications, 2007. р. 10.; Behr R., Katkov A. S. Final Report on the key comparison EUROMET.BIPM.EM.K-10.a. Comparison of Josephson array voltage standards by using a portable Josephson transfer standard // Metrologia. 2005. Vol. 42, № 1A, P. 01005. doi:10.1088/0026–1394/42/1A/01005; Comparison of the Josephson voltage standards of the VNIIM and the BIPM (part of the ongoing BIPM key comparison BIPM.EM-K10.b) / S. Solve [et al.] // Metrologia. 2011. Vol. 48, № 1A. P. 01007. doi:10.1088/0026–1394/48/1A/01007; AC and DC voltages from a Josephson arbitrary waveform synthesizer / S. P. Benz [et al.] // IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 2001. Vol. 50, № . 2. P. 181–184. doi:10.1109/19.918096; Katkov A., Shevtsov V., Gubler G. VNIIM 10 V programmable Josephson voltage standard // 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018): abstract, Paris, France, 08–13 July 2018. IEEE Xplore: 2018. P. 1–2. doi:10.1109/CPEM.2018.8500892; ГОСТ 8.381-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Эталоны. Способы выражения точности = State system for ensuring the uniformity of measurements. Standards. Ways for expressing the accuracy. М.: Стандартинформ; 2012. С. 2022.; ГЭТ 13–2023 Государственный первичный эталон единицы электрического напряжения: институт-хранитель ФГУП «ВНИИМ им. Д. И. Менделеева» // Федеральный информационный фонд по обеспечению единства измерений : официальный сайт. URL: https://fgis.gost.ru/fundmetrology/registry/12/items/1408837; Об утверждении государственной поверочной схемы для средств измерений постоянного электрического напряжения и электродвижущей силы: Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 28 июля 2023 года № 1520 // Электронный фонд правовых и нормативно-технических документов : официальный сайт. 2020. URL: https://files.stroyinf.ru/Data2/1/4293719/4293719472.pdf; https://www.rmjournal.ru/jour/article/view/443

  5. 5
    Academic Journal
  6. 6
    Academic Journal

    المصدر: Devices and Methods of Measurements; Том 14, № 2 (2023); 135-144 ; Приборы и методы измерений; Том 14, № 2 (2023); 135-144 ; 2414-0473 ; 2220-9506 ; 10.21122/2220-9506-2023-14-2

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: https://pimi.bntu.by/jour/article/view/825/660; Kronik L. Surface photovoltage phenomena: theory, experiment, and applications / Leeor Kronik, Yoram Shapira // Surface Science Reports, 1999, vol. 37, iss. 1–5, pp. 1–206. DOI:10.1016/S0167-5729(99)00002-3; Noras A. Non-contact surface charge/voltage measurements. Capacitive probe-principle of operation / A. Noras // Trek. – 2002. – № 3001. – Pp. 1–8.; Жарин А.Л. Метод контактной разности потенциалов и его применение в трибологии. – Мн.: Бестпринт, 1996. – 240 с. DOI:10.13140/RG.2.1.3993.8645; Моррисон С. Химическая физика поверхности твердого тела. – М.: Мир, 1980. – 488 с.; Пантелеев К.В. Построение измерителей контактной разности потенциалов / К.В. Пантелеев, В.А. Микитевич, А.Л. Жарин // Приборы и методы измерений. – 2016. – Т. 7. – № 1. – С. 7–15. DOI:10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15; Zharin Anatoly. Determining the lifetime of minority charge carriers and iron impurity concentration in semiconductor structures with submicron layers / A. Zharin [et al.] // Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering. – 2020. – Vol. 2. – Iss. 4, Article 3. – Pp. 17–21.; Поляков В.В. Контактная сканирующая емкостная микроскопия большеразмерных образцов / В.В. Поляков // Научное приборостроение. – 2009. – T. 19. – № 3. – С. 62–66.; Kronik L. Surface Photovoltage Spectroscopy of Semiconductors / L. Kronik, Y. Shapira // Encyclopedia of Modern Optics. – 2005. – Pp. 36–43. DOI:10.1016/B0-12-369395-0/00631-X; Штрапенин Г. Современные операционные усилители фирмы National Semiconductor / Г. Штрапенин // Компоненты и технологии. – 2005. – № 7. – С. 46–51.; Крейг А. Исследование зависимости КРП металлов от механического напряжения методом Кельвина / А. Крейг, Е. Радека // Приборы для научных исследований. – 1970. – № 2. – С. 99–105.; Delchar T. A static capacitor method for the measurement of surface potential of gases on evaporated metal films / T. Delchar, A. Eberhagen, F.C. Tompkins // J. of Scientific Instr. – 1963. – Vol. 40. – № 3. – Pp. 105–109. DOI:10.1088/0950-7671/40/3/308; Jacobs J.C. Surface potential measurements of insoluble monolayers using the static-capacitor method / J.C. Jacobs [et al.] // Journal of Colloid and Interface Science. – 1981. – Vol. 84. – Pp. 270–271. DOI:10.1016/0021-9797(81)90285-X; Mizse J. Surface potential mapping: comparison of the vibrating capacitor and the SPV method / Janos Mizse // Solid-State Electronics. – 2000. – Vol. 44. – Iss. 1. – Pp. 509–513. DOI:10.1016/S0038-1101(99)00264-6; Ferrari G. Transimpedance amplifier for high sensitivity current measerements оn nanodevices / G. Ferrari [et al.] // IEEE Journal of Solid-State Circuits. – 2009. – Vol. 44. – No. 5. – Pp. 1609–1616. DOI:10.1109/JSSC.2009.2016998; Woodall I.M. Summary Abstract: Are they really Schottky barriers after all? / I.M. Woodall, I.L. Frecouf // J. Vac. Sci. Technol. – 1982. – Vol. 21. – № 2. – Pp. 574– 576. DOI:10.1116/1.571766; Baytekin H.T. The Mosaic of Surface Charge in Contact Electrification / H.T. Baytekin [et al.] // Science. – 2011. – Vol. 333. – Iss. 6040. – Pp. 308–312. DOI:10.1126/science.1201512; Yamasue Kohei. Surface Potential Fluctuations of SiO2 /SiC Interfaces Investigated by Local Capacitance-Voltage Profiling Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscop / Kohei Yamasue, Cho Yasuo // Materials Science Forum. Silicon Carbide and Related Materials. – 2021. – Vol. 1062. – Pp. 335– 340. DOI:10.4028/p-2t7zak; Glatzel Th. Kelvin probe force microscopy оn III-V semiconductors: the effect of surface defects оn the local work function / Th. Glatzel [et al.] // Materials Science аnd Engineering. – 2003. – Vol. 102. – Iss. 1–3. – Рp. 138–142. DOI:10.1016/S0921-5107(03)00020-5; Торхов Н.А. Фрактальная геометрия поверхностного потенциала электрохимически осажденных пленок платины и палладия / Н.А. Торхов, В.А. Новиков // Физика и техника полупроводников. – 2009. – T. 43, вып. 8. – С. 1109–1116.; Тявловский К.Л. Многопараметрические измерения электрического потенциала поверхности с использованием адаптивной односигнальной модели / К.Л. Тявловский [и др.] // Метрология и приборостроение. – 2008. – № 2. – С. 27–32.; Тявловский К.Л. Метрологическое обеспечение бесконтактных измерений параметров микронеоднородного распределения электрического потенциала поверхности / К.Л. Тявловский [и др.] // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. – 2009. – № 4. – С. 34–37.; https://pimi.bntu.by/jour/article/view/825

  7. 7
    Academic Journal

    المصدر: Devices and Methods of Measurements; Том 14, № 3 (2023); 161-172 ; Приборы и методы измерений; Том 14, № 3 (2023); 161-172 ; 2414-0473 ; 2220-9506 ; 10.21122/2220-9506-2023-14-3

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: https://pimi.bntu.by/jour/article/view/828/663; Komin V.V. [et al.]. Status of Non‐contact Electrical Measurements. AIP Conference Proceedings, 2003, 683, 782. DOI:10.1063/1.1622559; Shroeder D.K. Contactless surface charge semiconductor characterization. Materials Science and Engineering. – 2002. – № 91–92. – Pр. 196–210.; Kronik L., Shapira Y. Surface photovoltage phenomena: theory, experiment, and applications. Surface Science Reports. – 1999. – Vol. 37. – Pp. 1–206.; Воробей Р.И. Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения потенциала по поверхности полупроводниковых пластин / Р.И. Воробей [и др.] // Приборы и методы измерений. – 2013. – № 2. – C. 67–72.; Пилипенко В.А. Характеризация электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния с использованием методов зондовой электрометрии / В.А. Пилипенко [и др.] // Приборы и методы измерений. – 2017. – Т. 8, № 4. – С. 344–356. DOI:10.21122/2220-9506-2017-8-4-24-31; Zharin A., Pantsialeyeu K., Svistun A., Tyavlovsky K. Determination the lifetime of minority charge carriers and iron impurity concentration in semiconductor structures with submicron layers. Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering. – 2020. – Vol. 2. – No. 4. – Pp. 17–21.; Tyavlovsky A., Zharin A., Mikitsevich V., Vorobey R. Scanning photo stimulated electrometry for testing the uniformity of spatial distribution of semiconductor wafers parameters. Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering. – 2020. – Vol. 2. – No. 4. – Pp. 47–51.; Pantsialeyeu K., Zharin A., Mikitsevich V., Gusev O. Semiconductor wafers testing based on electron work function of surface. Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering. – 2020. – Vol. 2. – No. 5. – Pp. 11–14.; Жарин А.Л. Метод контактной разности потенциалов и его применение в трибологии. – Минск: Бестпринт. – 1996. – 235 с.; Пантелеев К.В., Микитевич В.А., Жарин А.Л. Построение измерителей контактной разности потенциалов / К.В. Пантелеев, В.А. Микитевич, А.Л. Жарин // Приборы и методы измерений. – 2016. – Т. 7. – № 1. – С. 7–15. DOI:10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15; Микитевич В.А. Интеллектуальный сенсор для измерительных систем, работающих по схеме синусоидальное возбуждение–отклик / В.А. Микитевич [и др.] // Приборы и методы измерений. – 2023. – Т. 14. – № 1. – С. 18–26. DOI:10.21122/2220-9506-2023-14-1-18-26; Пантелеев К.В. Цифровой измеритель контактной разности потенциалов / К.В. Пантелеев [и др.] // Приборы и методы измерений. – 2016. – Т. 7. – № 2. – С. 136–144. DOI:10.21122/2220-9506-2016-7-2-136-144; https://pimi.bntu.by/jour/article/view/828

  8. 8
    Academic Journal

    المصدر: Devices and Methods of Measurements; Том 14, № 1 (2023); 18-26 ; Приборы и методы измерений; Том 14, № 1 (2023); 18-26 ; 2414-0473 ; 2220-9506 ; 10.21122/2220-9506-2023-14-1

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: https://pimi.bntu.by/jour/article/view/805/648; Войтович И.Д. Интеллектуальные сенсоры / И.Д. Войтович, В.М. Корсунский // ИНТУИТ. – 2016. – 1164 с.; Ратхор Т. Цифровые измерения. АЦП/ЦАП. / Т. Ратхор // Техносфера. – 2006. – 392 с.; Иванов Р. Семейство микроконтроллеров stm32l4. DSP c батарейным питанием / Р. Иванов // Вестник Электроники. – 2015. – № 4. – С. 10–17.; RM0351. Reference manual. STM32L4x5 and STM32L4x6 advanced ARM®-based 32-bit MCUs [Электронный ресурс]. – Режим доступа: https://www.st.com/en/microcontrollers-microprocessors/stm32l4-series.html (дата доступа: 04.03.2023).; Руководство по использованию обычных таймеров STM32 [Электронный ресурс]. – Режим доступа: http://microsin.net/programming/arm/an4776-general-purpose-timer-cookbook.html (дата доступа: 04.03.2023).; Знакомство с цифровым интерфейсом сигмадельта-модуляторов микроконтроллеров STM32. [Электронный ресурс]. – Режим доступа: https://www.compel.ru/lib/136833 (дата доступа: 04.03.2023).; Пантелеев К.В. Цифровой измеритель контактной разности потенциалов / К.В. Пантелеев [и др.] // Приборы и методы измерений. – 2016. – Т. 7, № 2. – С. 136–144. DOI:10.21122/2220-9506-2016-7-2-136-144; Zharin A. Determination the lifetime of minority charge carriers and iron impurity concentration in semiconductor structures with submicron layers / A. Zharin; K. Pantsialeyeu, A. Svistun, K. Tyavlovsky // Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering, 2020, vol. 2, iss. 4/3, pp. 17–21.; Tyavlovsky A. Scanning photo stimulated electrometry for testing the uniformity of spatial distribution of semiconductor wafers parameters / A. Tyavlovsky, A. Zharin, V. Mikitsevich, R. Vorobey // Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering, 2020, vol. 2, iss. 4/11, pp. 47–51.; Pantsialeyeu K. Semiconductor wafers testing based on electron work function of surface / K. Pantsialeyeu, A. Zharin, V. Mikitsevich, O. Gusev // Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering, 2020, vol. 2, iss. 5/2, pp. 11–14.; https://pimi.bntu.by/jour/article/view/805

  9. 9
    Academic Journal
  10. 10
    Conference

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: Современные технологии, экономика и образование : сборник материалов II Всероссийской научно-методической конференции, г. Томск, 2-4 сентября 2020 г.; Измерение мгновенных значений магнитного поля в асинхронном двигателе с помощью измерительных обмоток / И. А. Набунский, К. В. Образцов, А. С. Глазырин [и др.] // Современные технологии, экономика и образование : сборник материалов II Всероссийской научно-методической конференции, г. Томск, 2-4 сентября 2020 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2020. — [С. 136-138].; http://earchive.tpu.ru/handle/11683/64670

  11. 11
    Academic Journal

    المصدر: Computer Technologies, Automatic Control, Radioelectronics; Том 21, № 1 (2021); 35-48 ; Компьютерные технологии, управление, радиоэлектроника; Том 21, № 1 (2021); 35-48 ; 2409-6571 ; 1991-976X

    وصف الملف: application/pdf

  12. 12
    Academic Journal

    المصدر: Voprosy statistiki; Том 28, № 6 (2021); 30-42 ; Вопросы статистики; Том 28, № 6 (2021); 30-42 ; 2658-5499 ; 2313-6383

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: https://voprstat.elpub.ru/jour/article/view/1364/866; Хаертфельдер М., Лозовская Е., Ханеш Е. Фундаментальный и технический анализ рынка ценных бумаг. СПб.: Питер, 2005. 352 с.; Поляков К.Л., Полякова М.В., Василевский М.И. Оценка инвестиционной привлекательности компаний нефтеперерабатывающей промышленности Российской Федерации // Вопросы статистики. 2020. Т. 27. № 6. С. 56–65. doi: https://doi.org/10.34023/2313-6383-2020-27-6-56-65.; Фаербер Э. Все об акциях: легкий способ начать свой путь. 3-е изд. М.: Манн, Иванов и Фербер, 2013. 331 с.; Пестова А.А., Сухарева И.О., Солнцев О.Г. О стимулировании притока прямых иностранных инвестиций в российскую экономику с целью повышения «качества» экономического роста // Проблемы прогнозирования. 2011. № 1. С. 136–154.; Аветисян А.Г. Инвестиционная привлекательность страны: анализ основных факторов // Финансы: теория и практика. 2020. Т. 24. № 4. С. 58–74. doi: https://doi.org/10.26794/2587-5671-2020-24-4-58-74.; Ахметзянов И.Р. Анализ инвестиций. Методы оценки эффективности финансовых вложений. М.: Эксмо, 2007. 265 с.; Крылов Э.И., Власова В.М., Егорова М.Г. Анализ финансового состояния и инвестиционной привлекательности предприятия: учеб. пособие. М.: Финансы и статистика, 2014. 192 с.; Ивашковская И.В. Управление стоимостью компании: вызовы российскому менеджменту // Российский журнал менеджмента. 2004. № 4. С. 113–132.; Ситник П.Е. Использование показателей экономической прибыли для построения регионального рейтинга российских непубличных компаний // Корпоративные финансы. 2008. Т. 2. № 4. С. 114–121. doi: https://doi.org/10.17323/j.jcfr.2073-0438.2.4.2008.114-121.; Pratt S.P. The Market Approach to Valuing Businesses. 2nd ed. New York: Wiley, 2005. 432 p.; Knight J.A. Value-Based Management: Developing a Systematic Approach to Creating Shareholder Value. New York: McGraw-Hill, 1998. 307 p.; Damodaran A. Damodaran on Valuation: Security Analysis for Investment and Corporate Finance. 2-nd ed. New York: Wiley, 2006. 704 p.; Damodaran A. Investment Valuation. Tools and Techniques for Determining the Value of Any Asset. 3-nd ed. New York: Wiley, 2012. 992 p. doi: https://doi.org/10.1002/9781119201786.; Ivkin A. Country Risk in International Investment. Its’ structure and Methods of Estimation // Review of Business and Economics Studies. 2018. Vol. 6. No. 1. P. 56–77. doi: https://doi.org/10.26794/2308-944X-2018-6-1-56-77.; Pereiro L.E. Valuation of Companies in Emerging Markets: A Practical Approach. New York: Wiley, 2002. 528 p.; Kostin K.B. Investment Attractiveness Assessment of Global Russian Companies // Journal of Economics Studies and Research. 2018. P. 1–19. doi: https://doi.org/10.5171/2018.783590.; Yook K. Estimating EVA Using Compustat PC Plus // Journal of Applied Finance. 2000. Vol. 9. Iss. 2. P. 33–37.; Hamada R.S. The Effect of the Firm's Capital Structure on the Systematic Risk of Common Stocks // The Journal of Finance. 1972. Vol. 27. No. 2. P. 435–452.; Романов В.С., Кукина Е.Б. Исследование взаимосвязи показателя EVA и стоимости компании на российском рынке капитала // Корпоративные Финансы. 2008. Т. 2. № 4. С. 38–57.; https://voprstat.elpub.ru/jour/article/view/1364

  13. 13
    Academic Journal
  14. 14
  15. 15
    Academic Journal

    المؤلفون: Скорина, М. И.

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: Скорина, М. И. Термоэлектрические свойства производных слоистого кобальтита натрия Na[0.55]CoO[2] / М. И. Скорина // 74-я научно-техническая конференция учащихся, студентов и магистрантов : тезисы докладов, 17-22 апреля 2023 г., Минск : в 4 ч. Ч. 2. - Минск : БГТУ, 2023. – С. 69-70.; https://elib.belstu.by/handle/123456789/63479; 537.31/.32+54-31+666.654

  16. 16
    Academic Journal
  17. 17
    Academic Journal

    المصدر: Proceedings of the National Academy of Sciences of Belarus, Physical-Technical Series; Том 65, № 4 (2020); 413–421 ; Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наук; Том 65, № 4 (2020); 413–421 ; 2524-244X ; 1561-8358 ; 10.29235/1561-8358-2020-65-4

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: https://vestift.belnauka.by/jour/article/view/628/514; Пушин, В. Г. Сплавы с памятью формы. Структура, фазовые превращения, свойства, применение / В. Г. Пушин, Л. И. Юрченко, Н. Н. Куранова // Труды школы-семинара «Фазовые и структурные превращения в сталях». – Магнитогорск, 2001. – Вып. 1: 20–24 ноября 2000 г., Магнитогорск. – С. 135–191.; Рубаник, В. В. Термокинетическая ЭДС в никелиде титана / В. В. Рубаник, В. В. Рубаник мл., О. А. Петрова-Буркина // Материалы, технологии, инструменты. – 2012. – Т. 17, № 1. – С. 25–27.; Rubanik, V. V. Peculiarities of thermoelectric force behaviour in nikelidetitane upon non-stationary heating / V. V. Rubanik, V. V. Rubanik, Jr., O. A. Petrova-Burkina // Materials Science Forum. – 2013. – Vol. 738–739. – Р. 292–296. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.738-739.292; Rubanik, V. V. Thermokinetic EMF under direct phase transformation / V. V. Rubanik, A. V. Lesota, V. V. Rubanik, Jr. // Mater. Today Proc. Part B. – 2017. – Vol. 4, iss. 3. – P. 4712–4716. https://doi.org/10.1016/j.matpr.2017.04.057; Rubanik, V. V. Thermokinetic EFM in nikelide titanium during reverse phase transformation / V. V. Rubanik, V. V. Rubanik, Jr, O. A. Petrova-Burkina // Shape Memory &Superelastic Technology (SMST-2019), Konstanz, Germany, May 13–17, 2019. – Konstanz, 2019. – P. 86–87.; Рубаник, В. В. Термокинетическая ЭДС в никелиде титана при обратном фазовом переходе / В. В. Рубаник, В. В. Рубаник, мл., О. А. Петрова-Буркина // Международный симпозиум «Перспективные материалы и технологии»: Брест, 27–31 мая 2019 г.: сб. ст. / под ред. В. В. Рубаника. – Витебск: ВГТУ, 2019. – С.652–654.; Никелид титана: медицинский материал нового поколения / [В. Э. Гюнтер, В. Н. Ходоренко, Ю. Ф. Ясенчук и др.]; НИИ мед. материалов и имплантатов с памятью формы Сиб. физ.-техн. ин-та при Томском гос. ун-те. – Томск: [Изд-во МИЦ], 2006. – 296 с.; Surface oxidation of NiTi shape memory alloy / G. S. Firstov [et al.] // Biomaterials. – 2002. – Vol. 23, Iss. 24. – P. 4863–4871. https://doi.org/10.1016/S0142-9612(02)00244-2; Исследование влияния состояния поверхности изделий из сплавов TiNi на параметры эффектов памяти формы / С. Д. Прокошкин [и др.] // Металлы. – 2009. – № 6. – С. 76–84.; Моногенов, А. Н. Влияние оксидного слоя в никелиде титана на параметры формоизменения / А. Н. Моногенов, М. А. Перепелкин, В. Э. Гюнтер // Материалы с памятью формы и новые медицинские технологии / под ред. В. Э. Гюнтера. – Томск, 2010. – С. 332–336.; Андреев, В. А. Разработка технологии производства и исследование функционально-механических свойств проволоки из сплавов TiNi с эффектом памяти формы: дис. … канд. техн. наук: 05.16.01 / В. А. Андреев. – СПб., 2008. – 136 л.; Functional properties of nanocrystalline, submicrocrystalline and polygonizedTi–Ni alloys processed by cold rolling and post-deformation annealing / V. Brailovski [et al.] // J. Alloys Compd. – 2011. – Vol. 509, № 5. – P. 2066–2075. https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2010.10.142; Беляев, С. П. Исследование процессов окисления и сегрегации на поверхности никелида титана / С. П. Беляев, Ф. З. Гильмутдинов, О. М. Канунникова // Письма в ЖТФ. – 1999. – Т. 25, вып. 13. – С. 89–94.; Uchil, J. Effect of thermal cycling on R-phase stability in a NiTi shape memory alloy / J. Uchil, K.G. Kumara, K.K. Mahesh // Mater.Sci.Eng., A. – 2002. – V. 332.–Р.25–28. https://doi.org/10.1117/12.514736; Variation in kinetics of martensitic transformation during partial thermal cycling of the TiNi alloy / S. Belyaev [et al.] // Thermochim. Acta. – 2014. – Vol. 582. – P. 46–52. https://doi.org/10.1016/j.tca.2014.03.002; Lesota, A. V. Calculation of the effect of plastic deformationon thermo-kinetic electromotive force in TiNi alloy / A. V. Lesota, V. V. Rubanik, V. V. Rubanik Jr. // Lett. Mater. – 2018. – Vol. 8, № 4. – P. 401–405. https://doi.org/10.22226/2410-3535-2018-4-401-405; https://vestift.belnauka.by/jour/article/view/628

  18. 18
    Academic Journal

    المساهمون: This work was supported by the Ministry of Education of the Russian Federation (Decree of the government of the Russian Federation: Agreement #03.G25.31.0246)., Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации в рамках постановления Правительства Российской Федерации от 9 апреля 2010 г. №218 (Договор № 03.G25.31.0246).

    المصدر: Alternative Energy and Ecology (ISJAEE); № 1-6 (2020); 93-105 ; Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE); № 1-6 (2020); 93-105 ; 1608-8298

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: https://www.isjaee.com/jour/article/view/1887/1613; РИФ – Термоэлектрические генераторы Электронный ресурс – Режим доступа: www.rifcorp.ru/products/termoelektricheskie-generatory – (Дата обращения: 07.11.2019.).; Криотерм – Термоэлектрический генератор ГТЭГ Электронный ресурс – Режим доступа: kryothermtec.com/ru/thermoelectric-generator-gteg.html – (Дата обращения: 07.11.2019.).; Термоинтэх – Генератор Термоэлектрический для нефтегазовой отрасли Электронный ресурс – Режим доступа: thermointech.ru/products/generatortermoelektricheskiy-gte – (Дата обращения: 07.11.2019.).; Гольцман, Б.М. Полупроводниковые термоэлектрические материалы на основе Bi2Te3 / Б.М. Гольцман, В.А. Кудинов, И.А. Смирнов. – М.: Наука, 1972. – 320 с. 5 Eibl, O. Thermoelectric Bi2Te3 nanomaterials / O.Eibl et al. – Wiley – VCH, Weinheim, 2015. – 317 p.; Maciá-Barber, E. Thermoelectric Materials: Advances and Applications / E. Maciá-Barber. – CRC Press, Florida, 2015. – 364 p.; Rowe, D.M. Thermoelectrics / D.M. Rowe. – CRC Press, 1995. – 701 p.; Riffat, S. Thermoelectrics: a Review of Present and Potential Applications / S. Riffat, X. Ma // Applied Thermal Engineering. – 2003. – Vol. 23. – Р. 913–935.; Heremans, J.P. Low-Dimensional Thermoelectricity / J.P. Heremans // Acta Physica Polonica A. – 2005. – Vol. 108. – No. 4. – P. 609–634.; Ezzahri, Y. Comparison of Thin Film Microrefrigerators Based on Si/SiGe Superlattice and Bulk SiGe / Y. Ezzahri et al. // J. Microelectronics. – 2008. – Vol. 39. – P. 981–991.; Venkatasubramanian, R. Thin-film Thermoelectric Devices with High Room-temperature Figures of Merit / R. Venkatasubramanian et al. // Nature. – 2001. – Vol. 431. – P. 597–602.; Venkatasubramanian, R. MOCVD of Bi2Te3, Sb2Te3 and Their Superlattice Structures for Thin-film Thermoelectric Applications / R. Venkatasubramanian et al. // Journal of Crystal Growth. – 1997. – Vol. 170. – P. 721–817.; Funahashi, R. Thermoelectric properties of Pband Ca-doped (Bi2Sr2O4)xCoO2 whiskers / R. Funahashi, I.Matsubara // Appl. Phys. Lett. – 2001. – Vol. 79. – No.3. – P. 362–365.; Булат, Л.П. Влияние туннелирования на термоэлектрическую эффективность объемных наноструктурированных материалов / Л.П. Булат, Д.А. Пшенай-Северин // Физика твердого тела. – 2010. – T. 52. – Вып. 3. – C. 452–458.; Lin, H. Nanoscale clusters in the high performance thermoelectric AgPbmSbTem+2/ H. Lin et al. // Phys. Rev. B. – 2005. – Vol. 72. – No. 174113. – P. 1–7.; Harman, T. Quantum Dot Superlattice Thermoelectric Materials and Devices / T. Harman et al. // Science. – 2002. – Vol. 297. – P. 2229–2232.; Tavkhelidze, A. Large enhancement of the thermoelectric figure of merit in a ridged quantum well / A. Tavkhelidze // Nanotechnology. – 2009. – Vol. 20. – No. 405401. – P. 6.; Boukai, A. Silicon Nanowires as Efficient Thermoelectric Materials / A. Boukai et al. // Nature Letters. – 2008. – Vol. 451. – P. 168–171.; Hochbaum, A. Enhanced Thermoelectric Performance of Rough Silicon Nanowires / A. Hochbaum et al. // Nature Letters. – 2008. – Vol. 451. – P. 163–167.; Keyani, J. Assembly and Measurement of a Hybrid Nanowire-bulk Thermoelectric Device / J. Keyani, A.M. Stacy // Appl. Phys. Lett. – 2006. – Vol. 89. – P. 233106.; Шевельков, А.В. Химические аспекты создания термоэлектрических материалов / А.В. Шевельков // Успехи химии. – 2008. – Т. 77. – № 1. – С. 3–21.; Trawinski, B. Structure and thermoelectric properties of bismuth telluride-Carbon composites / B. Trawinski, et al. // Materials Research Bulletin. – 2018. – Vol. 99. – P. 10–17.; Bark, H. Effect of multiwalled carbon nanotubes on the thermoelectric properties of a bismuth telluride matrix / H. Bark et al. // Current Applied Physics. – 2013. – Vol. 13. – P. S111–S114.; Кульбачинский, В.А. Термоэлектрические свойства нанокомпозитов теллурида висмута с фуллеренами / В.А. Кульбачинский et al. // Физика и техника полупроводников. – 2011. – Т. 45. – Вып. 9. – С. 1241–1245.; Иванова, Л.Д. Термоэлектрические свойства твердого раствора Bi2Te2.4Se0.6 различного гранулометрического состава / Л.Д. Иванова и др. // Физика и техника полупроводников. – 2017. – Т. 51. – Вып. 8. – С. 1044–1047.; Драбкин, И.А. Термоэлектрические свойства материала на основе (Bi,Sb)2Te3, полученного методом искрового плазменного спекания / И.А. Драбкин и др. // Материалы электронной техники. – 2012. – № 3. – С. 18–21.; Bhame, S.D. Enhanced thermoelectric performance in spark plasma textured bulk n-type BiTe2.7Se0.3 and p-type Bi0.5Sb1.5Te3 / S.D. Bhame et al. // Appl. Phys. Lett. – 2013. – Vol. 102. – P. 211901.; Xie, W. High performance Bi2Te3 nanocomposites prepared by single-element-meltspinning spark-plasma sintering / W. Xie et al. // J Mater Sci. – 2013. – Vol. 48. – P. 2745–2760.; Hu, L.P. Improving thermoelectric properties of ntype bismuth–telluride-based alloys by deformation-induced lattice defects and texture enhancement / L.P. Hu et al. // Acta Materialia. – 2012. – Vol. 60. – P. 4431–4437.; Zhai, R. Enhancing Thermoelectric Performance of n-type Hot Deformed Bismuth-Telluride-Based Solid Solutions by Non-stoichiometry Mediated Intrinsic Point Defects / R. Zhai et al. // ACS Appl. Mater. Interfaces. – 2017. – Vol. 9. – P. 28577–28585.; Kim, D.H. Influence of powder morphology on thermoelectric anisotropy of spark-plasma-sintered Bi–Te-based thermoelectric materials / D.H. Kim et al. // Acta Materialia. – 2011. – Vol. 59. – P. 405–411.; Han, M.K. Thermoelectric Properties of Bi2Te3: CuI and the Effect of Its Doping with Pb Atoms / M.K. Han et al. // Materials. – 2017. – Vol. 10. – P. 1235.; Ge, Z.H. Enhanced thermoelectric properties of bismuth telluride bulk achieved by telluride-spilling during the spark plasma sintering process / Z.H. Ge et al. // Scripta Materialia. – 2018. – Vol. 143. – P. 90–93.; Стильбанс, Л.С. Физика полупроводников / Л.С. Стильбанс. – М.: Советское радио, 1967. – 452 с.; Иоффе, А.Ф. Физика полупроводников / А.Ф. Иоффе. – М.: Изд-во АН СССР, 1957. – 494 с.; Ансельм, А.И. Введение в теорию полупроводников / А.И. Ансельм. – М.: Наука, 1978. – 616 с.; Hao, F. High efficiency Bi2Te3-based materials and devices for thermoelectric power generation between 100 and 300 ºC / F. Hao et al // Energy Environ. Sci. – 2016. – Vol. 9. – P. 3120–3127.; Sheng, S.L. Semiconductor physical electronics / S.L. Sheng. – Springer, 2006. – 697 p.; Tritt, T.M. Thermoelectric Phenomena, Materials and Applications / T.M. Tritt // Annu.Rev.Mater.Res. – 2011. – Vol. 41. – P. 433–448.; Snyder, G. Complex thermoelectric materials / G. Snyder // Nature Materials. – 2008. – Vol. 7 – P. 105–114.; Белоногов Е.К. Влияние фотонной обработки на структуру и субструктуру термоэлектрического материала Bi2Te3-хSeх / Е.К. Белоногов и др. // Перспективные материалы. – 2019. – № 12. – С. 31–38.; https://www.isjaee.com/jour/article/view/1887

  19. 19
    Academic Journal
  20. 20
    Academic Journal

    المصدر: Известия Томского политехнического университета

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. Инжиниринг георесурсов. 2019. Т. 330, № 3; Пшеничкин А. Я. Типоморфизм пиритов Ольховско-Чибижекского золоторудного поля (Восточный Саян) / А. Я. Пшеничкин, Р. Ю. Гаврилов // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. Инжиниринг георесурсов. — 2019. — Т. 330, № 3. — [С. 60-72].; http://earchive.tpu.ru/handle/11683/53037