المؤلفون: Galiy, P.V., Nenchuk, T.M., Ciszewski, A., Mazur, P., Tsvetkova, O.V., Dzyuba, V.I., Makar, T.R.

مصطلحات موضوعية: шаруваті халькогеніди, самоорганізовані наноструктури, вторинне твердотільне змочування, скануючі тунельна мікроскопія/спектроскопія, атомно-силова мікроскопія, Х-променева фотоелектронна спектроскопія, дифракція повільних електронів, layered chalcogenides, self-assembling nanostructures, solid-state dewetting, scanning tunneling microscopy/spectroscopy, atomic force microscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, low energy electron diffraction

وصف الملف: application/pdf

Relation: P.V. Galiy, T.M. Nenchuk, A. Ciszewski, et al., J. Nano- Electron. Phys. 13 No 4, 04032 (2021). DOI: https://doi.org/10.21272/jnep.13(4).04032; https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/85316

الاتاحة: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/85316

المؤلفون: V. I. Dzyuba, T. M. Nenchuk, O. V. Tsvetkova, Piotr Mazur, Antoni Ciszewski, T. R. Makar, P. V. Galiy

المصدر: Journal of Nano- and Electronic Physics. 13:04032-1

مصطلحات موضوعية: layered chalcogenides, X-ray photoelectron spectroscopy, low energy electron diffraction, самоорганізовані наноструктури, atomic force microscopy, Radiation, Materials science, шаруваті халькогеніди, scanning tunneling microscopy/spectroscopy, Solid-state, Nanotechnology, Condensed Matter Physics, вторинне твердотільне змочування, дифракція повільних електронів, Х-променева фотоелектронна спектроскопія, General Materials Science, Dewetting, solid-state dewetting, атомно-силова мікроскопія, скануючі тунельна мікроскопія/спектроскопія, self-assembling nanostructures

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::92ccedf15d6fafd73aacce1674e85364
https://doi.org/10.21272/jnep.13(4).04032

المؤلفون: Галій, П.В., Васильців, В.І., Лучечко, А.П., Мазур, П., Ненчук, Т.М., Цвєткова, О.В., Яровець, І.Р.

مصطلحات موضوعية: високотемпературний твердофазовий синтез, х-променева фотоелектронна спектроскопія, елементно-фазовий склад, топографія, атомна силова мікроскопія поверхонь, 2β-Ga2O3-SnO2 system, x-ray photoelectron spectroscopy, elemental-phase study, topography, atomic force microscopy

وصف الملف: application/pdf

Relation: Елементно-фазові та структурні дослідження полікристалічних поверхонь сполук системи β-Ga2O3-SnO2 / П.В. Галій, В.І. Васильців, А.П. Лучечко [та ін.] // Журнал нано- та електронної фізики. - 2018. - Т.10, № 5. - 05039. - DOI:10.21272/jnep.10(5).05039.; http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/71547

الاتاحة: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/71547

مصطلحات موضوعية: 2β-Ga2O3-SnO2 system, високотемпературний твердофазовий синтез, atomic force microscopy, topography, x-ray photoelectron spectroscopy, х-променева фотоелектронна спектроскопія, елементно-фазовий склад, атомна силова мікроскопія поверхонь, elemental-phase study, топографія

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2001::09faf625c4795ab3df9c4652f3f47d26
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/71547

المؤلفون: Галій, П.В., Мазур, П., Ціжевський, А., Яровець, І.Р., Ненчук, Т.М., Сімон, Франк, Бужук, Я.М., Фоменко, В.Л.

مصطلحات موضوعية: Шаруваті кристали, Міжшарові поверхні сколювання, Х-променева фотоелектронна спектроскопія, Елементно-фазовий склад, Топографія, Атомна структура, Скануюча тунельна мікроскопія, Скануюча тунельна спектроскопія, Дифракція повільних електронів, Слоистые кристаллы, Междуслоевые поверхности скалывания, Х-лучевая фото- электронная спектроскопия, Элементно-фазный состав, Топография, Атомная структура, Сканирующая туннельная микроскопия, Сканирующая туннельная спектроскопия, Дифракция медленных электронов, Layered crystals, Interlayer cleavage surfaces, X-ray photoelectron spectroscopy, Element-phase composition, Topography, Atomic structure, Scanning tunneling microscopy, Scanning tunneling spectroscopy, Low energy electron diffraction

وصف الملف: application/pdf

Relation: П.В. Галій, П. Мазур та ін. Ж. нано- електрон. фіз. 8 № 1, 01012 (2016); http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44812

الاتاحة: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44812

مصطلحات موضوعية: X-ray photoelectron spectroscopy, Element-phase composition, Topography, Атомная структура, Атомна структура, Interlayer cleavage surfaces, Элементно-фазный состав, Елементно-фазовий склад, Дифракция медленных электронов, Layered crystals, Х-лучевая фото- электронная спектроскопия, Х-променева фотоелектронна спектроскопія, Топографія, Междуслоевые поверхности скалывания, Scanning tunneling microscopy, Сканирующая туннельная микроскопия, Дифракція повільних електронів, Сканирующая туннельная спектроскопия, Слоистые кристаллы, Шаруваті кристали, Scanning tunneling spectroscopy, Low energy electron diffraction, Міжшарові поверхні сколювання, Скануюча тунельна спектроскопія, Топография, Atomic structure, Скануюча тунельна мікроскопія

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2001::8a7040aeef9cc8ec6a574e767c54acbe
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44812