المؤلفون: Rodríguez-Martínez, Yerila

المساهمون: Institut Jean Lamour (IJL), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Université de Lorraine (UL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Bourse - Ambassade de France à Cuba, Bourse - Programme AMASE, Université de Lorraine, Universidad de La Habana (Cuba), David Horwat, Lídice Vaillant Roca

المصدر: https://hal.univ-lorraine.fr/tel-04537047 ; Materials Science [cond-mat.mtrl-sci]. Université de Lorraine; Universidad de La Habana (Cuba), 2023. English. ⟨NNT : 2023LORR0208⟩.

مصطلحات موضوعية: Copper nanoparticles, Copper oxide, Reactive magnetron sputtering, Localized surface plasmon resonance, Hot carriers, Photoconversion, Nanoparticules de cuivre, Oxyde de cuivre, Pulvérisation magnétron réactive, Résonance plasmonique de surface localisée, Porteurs chauds, [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci]

Relation: NNT: 2023LORR0208

الاتاحة: https://hal.univ-lorraine.fr/tel-04537047
https://hal.univ-lorraine.fr/tel-04537047v1/document
https://hal.univ-lorraine.fr/tel-04537047v1/file/DDOC_T_2023_0208_RODRIGUEZ_MARTINEZ.pdf

المؤلفون: Sicre, Mathieu

المساهمون: Lyon, INSA, Calmon, Francis

مصطلحات موضوعية: Electronique, Diode à avalanche à photon unique, Taux de comptage dans l’obscurité, Fiabilité, Dégradation type porteurs chauds, Conception assistée par ordinateur, Méthode de Monte Carlo, Caractérisation électro-Optique, Claquage par avalanche, Electronic Board, Single Photon Avalanche Diode (SPAD), Dark Count Rate (DCR), Reliability, Hot-Carrier Degradation (HCD), CAD - Computer-Aided design, Monte Carlo method, Electro-Optical characterization, Avalanche collapse, 621.381 548 072

Relation: http://www.theses.fr/2023ISAL0104/document

الاتاحة: http://www.theses.fr/2023ISAL0104/document

المؤلفون: Fan, Fei

المساهمون: Institut des Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON (FOTON), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-École Nationale Supérieure des Sciences Appliquées et de Technologie (ENSSAT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), INSA de Rennes, Olivier Durand

المصدر: https://theses.hal.science/tel-04475482 ; Optics / Photonic. INSA de Rennes, 2022. English. ⟨NNT : 2022ISAR0008⟩.

مصطلحات موضوعية: GaP/Si interface, MBE, Hot Carrier Solar Cells, III-V/InP heterostructures, Tandem solar cells on Si, III-V materials technologies, GaP / Si, Cellules solaires à porteurs chauds, Hétérostructures III-V / InP, Cellules solaires tandem sur Si, Technologies des matériaux III-V, [SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic

Relation: NNT: 2022ISAR0008; tel-04475482; https://theses.hal.science/tel-04475482; https://theses.hal.science/tel-04475482/document; https://theses.hal.science/tel-04475482/file/TheseDEF_Fei_FAN.pdf

الاتاحة: https://theses.hal.science/tel-04475482
https://theses.hal.science/tel-04475482/document
https://theses.hal.science/tel-04475482/file/TheseDEF_Fei_FAN.pdf

المؤلفون: Fan, Fei

المساهمون: Rennes, INSA, Durand, Olivier

مصطلحات موضوعية: GaP / Si, Mbe, Cellules solaires à porteurs chauds, Hétérostructures III-V / InP, Cellules solaires tandem sur Si, Technologies des matériaux III-V, GaP/Si interface, Hot Carrier Solar Cells, III-V/InP heterostructures, Tandem solar cells on Si, III-V materials technologies, 621.04

Relation: http://www.theses.fr/2022ISAR0008/document

الاتاحة: http://www.theses.fr/2022ISAR0008/document

المؤلفون: Hernandez, Romain

المساهمون: STAR, ABES

مصطلحات موضوعية: Luminescence multiphotonique, Ultrafast detection, Plasmonique, Porteurs chauds, [PHYS.COND.CM-GEN] Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Other [cond-mat.other], Multi-Photon luminescence, Photodetectors, Électrons chauds, Détection ultra-Rapide, Plasmonic, Photodétecteurs, Hot electrons, Hot carriers

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3711::405b5a8a019969a0d0484d7a0971e57b
https://theses.hal.science/tel-03989981

المؤلفون: Couret, Marine

المساهمون: Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Bordeaux, Cristell Maneux

المصدر: Electronics. Université de Bordeaux, 2020. English. ⟨NNT : 2020BORD0265⟩

مصطلحات موضوعية: SiGe HBT, Porteurs chauds, TBH SiGe, Compact model, Hot-Carriers, Fiabilité, Reliability, Modèle compact, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2592::962b75968c59758dd7f8c02e573164ed
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-03121111/document

المؤلفون: Hernandez, Romain

المساهمون: Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne (ICB), Université de Technologie de Belfort-Montbeliard (UTBM)-Université de Bourgogne (UB)-Université Bourgogne Franche-Comté COMUE (UBFC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bourgogne Franche-Comté, Politecnico di Milano, Benoît Cluzel, Olivier Demichel

المصدر: https://theses.hal.science/tel-03989981 ; Other [cond-mat.other]. Université Bourgogne Franche-Comté; Politecnico di Milano, 2021. English. ⟨NNT : 2021UBFCK080⟩.

مصطلحات موضوعية: Hot electrons, Photodetectors, Multi-Photon luminescence, Ultrafast detection, Hot carriers, Plasmonic, Plasmonique, Porteurs chauds, Photodétecteurs, Luminescence multiphotonique, Électrons chauds, Détection ultra-Rapide, [PHYS.COND.CM-GEN]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Other [cond-mat.other]

Relation: NNT: 2021UBFCK080

الاتاحة: https://theses.hal.science/tel-03989981
https://theses.hal.science/tel-03989981v1/document
https://theses.hal.science/tel-03989981v1/file/95723_HERNANDEZ_2021_archivage.pdf

المؤلفون: Hernandez, Romain

المساهمون: Bourgogne Franche-Comté, Politecnico di Milano, Cluzel, Benoît, Demichel, Olivier

مصطلحات موضوعية: Plasmonique, Porteurs chauds, Photodétecteurs, Luminescence multiphotonique, Électrons chauds, Détection ultra-Rapide, Hot electrons, Photodetectors, Multi-Photon luminescence, Ultrafast detection, Hot carriers, Plasmonic

Time: 530

Relation: http://www.theses.fr/2021UBFCK080/document

الاتاحة: http://www.theses.fr/2021UBFCK080/document

المؤلفون: Bestory, Corinne

مصطلحات موضوعية: Conception en vue de la fiabilité, Simulation de Monte-Carlo, Radiation, Dispersions technologiques, Porteurs chauds, Modélisation comportementale, Prédiction de la durée de vie, Fiabilité, Design for reliability, Hot carriers, Life time prediction, Monte-Carlo simulation, Statistical process dispersion, Behavioural modelling, Reliability

وصف الملف: application/pdf

Relation: https://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/24874; http://ori-oai.u-bordeaux1.fr/pdf/2008/BESTORY_CORINNE_2008.pdf

الاتاحة: https://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/24874
https://hdl.handle.net/20.500.12278/24874
http://ori-oai.u-bordeaux1.fr/pdf/2008/BESTORY_CORINNE_2008.pdf

المؤلفون: COURET, Marine

المساهمون: STAR, ABES, Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1, Université de Bordeaux, Cristell Maneux, Maneux, Cristell, Begueret, Jean-Baptiste, Pascal, Fabien, Aniel, Frédéric, Marc, François, Deltimple, Nathalie, Fischer, Gerhard, Céli, Didier

المصدر: Electronics. Université de Bordeaux, 2020. English. ⟨NNT : 2020BORD0265⟩

مصطلحات موضوعية: SiGe HBT, Porteurs chauds, TBH SiGe, Compact model, Hot-Carriers, Fiabilité, Reliability, Modèle compact, [SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::8869dc1bd916fe1a50c5b2075b8a2dfd
https://theses.hal.science/tel-03121111

المؤلفون: Couret, Marine

المساهمون: Bordeaux, Maneux, Cristell

مصطلحات موضوعية: TBH SiGe, Fiabilité, Modèle compact, Porteurs chauds, SiGe HBT, Reliability, Compact model, Hot-Carriers

Relation: http://www.theses.fr/2020BORD0265/document

الاتاحة: http://www.theses.fr/2020BORD0265/document

المؤلفون: Laurent, Antoine

Thesis Advisors: Grenoble Alpes, Ghibaudo, Gérard

مصطلحات موضوعية: Trigate, Nanofil, Fiabilité, Bti, Porteurs Chauds, Microélectronique, Nanowire, Reliability, Hot Carriers, Microelectronic, 620

الاتاحة: http://www.theses.fr/2018GREAT024/document

المؤلفون: Laurent, Antoine

المساهمون: Laboratoire d'Informatique pour la Mécanique et les Sciences de l'Ingénieur (LIMSI), Université Paris Saclay (COmUE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Sorbonne Université - UFR d'Ingénierie (UFR 919), Sorbonne Université (SU)-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11), Communauté Université Grenoble Alpes, Gérard Ghibaudo, Xavier Garros (co-encadrant), David Roy (co-encadrant)

المصدر: Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Communauté Université Grenoble Alpes, 2018. Français

مصطلحات موضوعية: Nanowire, Trigate, Microelectronics, Porteurs chauds, Hot Carriers, Fiabilité, BTI, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Reliability, Nanofil, Microélectronique

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______212::386292ba4f6ac7afbf0b17c60c6ddd30
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01921702

المؤلفون: Laurent, Antoine

المساهمون: Laboratoire d'Informatique pour la Mécanique et les Sciences de l'Ingénieur (LIMSI), Université Paris Saclay (COmUE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Sorbonne Université - UFR d'Ingénierie (UFR 919), Sorbonne Université (SU)-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11), Communauté Université Grenoble Alpes, Gérard Ghibaudo, Xavier Garros (co-encadrant), David Roy (co-encadrant)

المصدر: Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Communauté Université Grenoble Alpes, 2018. Français

مصطلحات موضوعية: Nanowire, Trigate, Microelectronics, Porteurs chauds, Hot Carriers, Fiabilité, BTI, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Reliability, Nanofil, Microélectronique

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2592::386292ba4f6ac7afbf0b17c60c6ddd30
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01921702

المؤلفون: Rodríguez Martínez, Yerila

المساهمون: Université de Lorraine, Universidad de La Habana (Cuba), Horwat, David, Vaillant Roca, Lídice

مصطلحات موضوعية: Nanoparticules de cuivre, Oxyde de cuivre, Pulvérisation magnétron réactive, Résonance plasmonique de surface localisée, Porteurs chauds, Photoconversion, Copper nanoparticles, Copper oxide, Reactive magnetron sputtering, Localized surface plasmon resonance, Hot carriers, 530.417, 621.381 52, 620.44

Relation: http://www.theses.fr/2023LORR0208

الاتاحة: http://www.theses.fr/2023LORR0208

المؤلفون: Laurent, Antoine

المساهمون: STAR, ABES, Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC ), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019]), Université Grenoble Alpes, Gérard Ghibaudo

المصدر: Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Grenoble Alpes, 2018. Français. ⟨NNT : 2018GREAT024⟩

مصطلحات موضوعية: Trigate, Nanowire, Hot Carriers, [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Fiabilité, Bti, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Microelectronic, Reliability, Nanofil, Microélectronique, Porteurs Chauds

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::074f7da675180926f89fb3f20c584572
https://theses.hal.science/tel-01877014

المؤلفون: Ndiaye, Cheikh

Thesis Advisors: Aix-Marseille, Bravaix, Alain

مصطلحات موضوعية: Fiabilité, Mosfet, Dégradation par porteurs chauds (HCI), Oscillateurs en anneau, Layout, Process, Modélisation HCI, Relaxation, Bti, Fdsoi, Reliability, Hot carrier degradation (HC), Negative Bias Temperature, Ring Oscillator, Compensation

الاتاحة: http://www.theses.fr/2017AIXM0182/document

المؤلفون: Laurent, Antoine

المساهمون: Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP)-Université Savoie Mont Blanc (USMB Université de Savoie Université de Chambéry )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes 2016-2019 (UGA 2016-2019 ), Université Grenoble Alpes, Gérard Ghibaudo

المصدر: https://theses.hal.science/tel-01877014 ; Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Grenoble Alpes, 2018. Français. ⟨NNT : 2018GREAT024⟩.

مصطلحات موضوعية: Trigate, Nanowire, Reliability, Bti, Hot Carriers, Microelectronic, Nanofil, Fiabilité, Porteurs Chauds, Microélectronique, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

Relation: NNT: 2018GREAT024

الاتاحة: https://theses.hal.science/tel-01877014
https://theses.hal.science/tel-01877014v2/document
https://theses.hal.science/tel-01877014v2/file/LAURENT_2018_diffusion.pdf

المؤلفون: Laurent, Antoine

المساهمون: Université Grenoble Alpes (ComUE), Ghibaudo, Gérard

مصطلحات موضوعية: Trigate, Nanofil, Fiabilité, Bti, Porteurs Chauds, Microélectronique, Nanowire, Reliability, Hot Carriers, Microelectronic

Time: 620

Relation: http://www.theses.fr/2018GREAT024/document

الاتاحة: http://www.theses.fr/2018GREAT024/document

المؤلفون: Laurent, Antoine

المساهمون: Laboratoire d'Informatique pour la Mécanique et les Sciences de l'Ingénieur (LIMSI), Université Paris Saclay (COmUE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Sorbonne Université - UFR d'Ingénierie (UFR 919), Sorbonne Université (SU)-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11), Communauté Université Grenoble Alpes, Gérard Ghibaudo, Xavier Garros (co-encadrant), David Roy (co-encadrant)

المصدر: https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01921702 ; Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Communauté Université Grenoble Alpes, 2018. Français.

مصطلحات موضوعية: Nanowire, Reliability, Hot Carriers, Microelectronics, Microélectronique, Porteurs chauds, Trigate, Nanofil, Fiabilité, BTI, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

Relation: tel-01921702; https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01921702; https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01921702/document; https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01921702/file/Manuscript_final_corrig%C3%A9.pdf

الاتاحة: https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01921702
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01921702/document
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01921702/file/Manuscript_final_corrig%C3%A9.pdf